КОНТРОЛЬ ТА ДІАГНОСТУВАННЯ ПОСЛІДОВНИХ ЦИФРОВИХ СТРУКТУР
DOI:
https://doi.org/10.58254/viti.4.2023.08.93Ключові слова:
послідовні цифрові структури, великі інтегральні схеми, діагностика технічного стану, радіоелектронні компонентиАнотація
У сучасному світі цифрової електроніки послідовні цифрові структури належать до компонентів багатьох електронних систем і пристроїв. Такі системи (пристрої) широко використовують в різних галузях творчості та життєдіяльності людини, включаючи комунікаційні системи, автоматичні та автоматизовані пристрої. Завдання, пов’язані з контролем та діагностикою таких систем, супроводжуються певними труднощами. Дослідження в цьому напрямку має особливе значення для забезпечення стійкості та надійності цифрових систем у сучасних технологічних умовах. У цьому контексті вивчення особливостей діагностування, послідовних цифрових структур набуває особливого значення. Під діагностуванням розуміємо послідовне розв’язання задач визначення технічного стану, локалізацію несправності (з точністю до окремого радіоелектронного компонента) та прогнозування технічного стану на певний проміжок часу. Визначення окремого радіоелектронного компонента в складі цифрової системи означає визначення конкретної мікросхеми, функціонування якої не відповідає технічним умовам (оскільки мікросхема, незважаючи на складність та багатофункціональність, є мінімальним компонентом, що підлягає заміні). Контроль технічного стану особливо важливий у системах, яка містить велику кількість взаємодіючих між собою послідовних цифрових елементів.
Однією з ключових проблем під час розробки методів контролю послідовних цифрових структур є їхня чисельна розмірність та велика кількість логічних елементів, кожен з яких може бути джерелом помилки при виконанні простих логічних операцій. Тому інженерам доводиться розробляти нові ефективні методи та алгоритми виявлення помилок у таких системах.
Посилання
1. Основи технічної діагностики / За ред. П. П. Пархоменка. Луганськ: Вид. «Ноулидж», 2012. 480 с.
2. Чжан Г. Діагностика відмов цифрових обчислювальних систем / Г. Чжан, Е. Маннинг, Г. Метц. Харків: ООО «Компанія ОМІТ», 2006. 292 с.
3. Доценко Б. И. Определение эффективности проверки технического состояния систем. Техника воздушного флота. Харьков: Изд. Харьковского авиационного института, 1991. С. 23–29.
4. Кузавков В., Хорошко В., Янковський О. Технічна діагностика складних технічних об’єктів // Захист інформації. 2022. Т. 24, № 3. С. 115–120.
5. Кузавков В., Хорошко В., Янковський О., Болотюк Ю. Вимоги до засобів діагностування обчислювальних систем // Безпека інформації. 2022. Т. 28, № 3. С. 127–132.
6. Ярмолик В. Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. Вильнюс: Наука и техника, 1992. 240 с.
7. Цой С. Прикладна теорія графа. Алма-Ата: Наука, 2001. 500 с.
8. Стрельников В. П. Оценка и прогнозирование надёжности электронных элементов и узлов / В. П. Стрельников, А. П. Федухин. К: Лотос, 2002. 486 с.
9. Настенко Є. А., Павлов В. А., Городецька О. К., Корнієнко Г. А. Методи моделювання складних систем і процесів / О. Г. Івахненко. К.: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. 144 с.
10. Wu Chi-Feng. Fault simulation and test algorithm generation for random access memories /
Chi-Feng Wu, Chih-Tsun Huang, Kuo Liang Cheng, Cheng-Wen Wu // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2002. Vol. 21. Issue: 4. Р. 480–490.
11. Li Jin-Fu. March-based RAM diagnosis algorithms for stuck-at and coupling faults / Jin-Fu Li,
Kuo-Liang Cheng, Chih-Tsun Huang, Cheng-Wen Wu // IEEE Trans. on Fuzzy Systems. 2002. Vol. 10, Issue 2. Р. 155–170.